列舉測厚儀工作過程中常見的困擾及正確解決方法 測厚儀其實是一種用于查看物體厚度的儀器儀表。在工業(yè)生產(chǎn)測厚中廣泛運用。這類涂層測厚儀，根據(jù)其測量辦法的不一樣，大致可以劃分為以下幾個種類：運用α 射線、β 射線、y 射線穿透特性的放射性厚度計;選用超聲波頻率改動的超聲波厚度計以及選用渦流原理的電渦流厚度計;還有電容式厚度計等。 此外，運用微波和激光技術(shù)制成厚度計，現(xiàn)在還處在研發(fā)、試驗期間。涂層測厚儀可測量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性涂層的厚度(如鋁、鉻、銅、搪瓷、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆層的厚度(如：搪瓷、橡膠、油漆、塑料等)。既可用于實驗室中的精細(xì)測量，也可用于工程現(xiàn)場廣泛地運用在金屬制造業(yè)、化工業(yè)、航空航天、科研開發(fā)等范疇，是企業(yè)確保產(chǎn)品質(zhì)量、商查看控、必不可少的查看儀器。 一、作業(yè)原理膜厚儀采用了磁性和渦流兩種測厚方法，可無損地測量磁性金屬基體( 如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、 油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、 鋁、 鋅、 錫等)上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。 a) 磁性法(F 型測量頭) b) 渦流法(N 型測量頭) 利用高頻交變電流在線圈中產(chǎn)生一個電磁場，當(dāng)測量頭與覆蓋層接觸時，金屬基體上產(chǎn)生電渦流，并對測量頭中的線圈產(chǎn)生反饋作用，通過測量反饋作用的大小可導(dǎo)出覆蓋層的厚度。 二、常見毛病及掃除辦法涂層測厚儀的毛病主要有示值顯現(xiàn)不穩(wěn)定、測量差錯較大、屏幕不顯現(xiàn)數(shù)據(jù)。致使這些毛病的要素既有來自儀器本身，也有被測工件的要素，還有即是來自人為的影響，下面咱們介紹一下掃除這些毛病的辦法。 1.示值顯現(xiàn)不穩(wěn)定 致使涂層測厚儀示值顯現(xiàn)不穩(wěn)定的要素主要是來自工件本身的資料和構(gòu)造的特別性，比方工件本身是不是為導(dǎo)磁性資料，假如是導(dǎo)磁性資料咱們就要挑選磁性涂層測厚儀，假如工件為導(dǎo)電體，咱們就得挑選渦流涂層測厚儀。再者，被測件的外表粗糙度和附著物也是致使儀器示值顯現(xiàn)不穩(wěn)定的重要要素，測厚儀的探頭對那些阻礙與覆蓋層外表緊密觸摸的附著物質(zhì)極其靈敏。有必要確保探頭與覆蓋層外表直觸摸摸。因而，掃除此種毛病的關(guān)鍵即是：測量前鏟除被測件觸摸面的塵埃、細(xì)屑、油脂及腐蝕產(chǎn)物等附著物，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。再有即是在進(jìn)行體系調(diào)零時，所運用的基體外表也有必要是清洗、潤滑的。如感受測量成果差錯比較大時，請先用儀器裝備的塑料校準(zhǔn)片做一輪測驗，如違背答應(yīng)差錯較遠(yuǎn)則有也許是儀器本身出了問題，需返廠家檢修。在體系校按時沒有挑選適宜的基體。基體小平面為7mm，小厚度為 0.2mm，低于此臨界條件測量是不可靠的。 2.屏幕不顯現(xiàn)數(shù)據(jù) 簡略要素即是查看電池是不是電量足夠，斷定電池電量足夠后如發(fā)現(xiàn)測量仍是不顯現(xiàn)數(shù)值，可以思考是不是有測頭及連線有松動、斷開或觸摸不良景象、電池漏液后腐蝕儀器內(nèi)電子零部件等要素影響。小編在實際作業(yè)中就碰到過因測頭運用不當(dāng)被化學(xué)物品腐蝕，致使儀器不顯現(xiàn)數(shù)據(jù)的景象。 3.儀器本身發(fā)作毛病 長時間處于作業(yè)狀況的測厚儀，極有也許發(fā)作轟動、下跌、等意外，或所在的作業(yè)環(huán)境有磁場攪擾，致使儀器內(nèi)部電子零件受攪擾至損，又是由于經(jīng)多人次、多地址運用，致使儀器測量數(shù)據(jù)不可靠、屏幕數(shù)據(jù)顯現(xiàn)呈亂碼、乃至無法開機等，所以主張盡量確保專人運用和保管儀器，發(fā)作毛病及時返廠修理，不得私行拆機查看。 因而，在運用測厚儀測量的時分要注意以下幾點： (1)在測量的時分要注意側(cè)頭與測試外表堅持筆直。 (2)在測量時要保持壓力的穩(wěn)定，否則會影響測量的讀數(shù)。 (3)在進(jìn)行測驗的時分要注意標(biāo)準(zhǔn)片基體的金屬磁性和外表粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件類似。 (4)在測量的時分要注意試件的曲率對測量的影響。因而在彎曲的試件外表上測量時不可靠的。 (5)測量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會不會發(fā)作磁場，假如會，將會攪擾磁性測厚法的測厚儀。 (6) 在進(jìn)行測驗的時分要注意基體金屬的臨界厚度，假如大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。
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